出願分類 |
特許名 |
発明者名 |
特許番号 |
出願年月 |
登録年月 |
日本 |
薄膜パターン形成装置及び電子回路装置 |
佐藤 了平、岩田 剛治、横田 耕一 |
特願2003-028879 |
2003.2 |
|
日本 |
薄膜パターン形成装置及び電子回路装置 |
佐藤 了平 |
特願2002-211761 |
2002.7 |
|
日本 |
ガス放電型表示パネルおよびそれを用いた表示装置 |
佐藤 了平、他 |
日本特許特願平10−355682号 |
1998.12 |
|
日本 |
ガス放電型表示装置 |
佐藤 了平、他 |
日本特許特願平10−173604号 |
1998.6 |
|
アメリカ |
Method for Diagnosing the Life of a Solder Connection |
Ryohei Satoh,et al. |
U.S.Patent 5291419 |
1992.6 |
1994.3 |
日本 |
電子回路装置 |
佐藤 了平、他 |
日本特許第2887332号 |
1991.7 |
1999.2 |
日本 |
電子回路装置 |
佐藤 了平、他 |
日本特許第3033221号 |
1991.3 |
2000.2 |
日本 |
回路基板 |
佐藤 了平、他 |
日本特許第2886945号 |
1990.5 |
1999.2 |
日本 |
電子部品はんだ接続寿命評価法 |
佐藤 了平、他 |
日本特許第2791174号 |
1990.4 |
1998.6 |
日本 |
電子回路装置 |
佐藤 了平、他 |
日本特許第2821229号 |
1990.3 |
1998.8 |
日本 |
電子回路装置の製造方法 |
佐藤 了平、他 |
日本特許第2865770号 |
1990.2 |
1998.12 |
アメリカ |
Electronic Circuit Device and Method of Producing The Same |
Ryohei Satoh,et al. |
U.S.Patent 4673772 |
1985.4 |
1987.6 |
|